NI PXIE-6570 PXI数字模式仪器

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NI PXIe-6570 PXI数字模式仪器是一款专为半导体特性分析和生产测试而设计的基于向量的PXI数字通道板卡。以下是关于该仪器的详细信息和特点：设计特点：

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NI PXIE-6570 PXI数字模式仪器

NI PXIe-6570 PXI数字模式仪器是一款专为半导体特性分析和生产测试而设计的基于向量的PXI数字通道板卡。以下是关于该仪器的详细信息和特点：

设计特点：

专为半导体特性分析和生产测试而设计，提供强大的测试和测量功能。
基于向量的PXI数字通道板卡，能够配置引脚映射、规格、电平、定时和pattern。

技术参数：

通道数：32个通道，提供广泛的测试覆盖范围。
电压范围：-2 V至6 V，适应不同半导体器件的测试需求。
PPMU力电压范围：-2 V至7 V，PPMU（Programmable Power Measurement Unit）功能可用于精确测量和控制电压。
数据速率：最高可达200 Mb/s，实现高速数据传输和测试。
时钟发生频率：高达160 MHz，满足高精度时序控制需求。

功能特点：

提供数字向量编辑器，方便用户创建和编辑测试pattern。
包括shmoo、数字示波器、历史RAM查看器、引脚状态和系统状态等调试工具，帮助用户进行故障排查和系统优化。
支持定时设置和每通道PPMU功能，实现半导体器件的精确特性分析和生产测试。

应用领域：

主要应用于半导体制造、测试和验证等领域，帮助提高半导体器件的性能和可靠性。

其他信息：

产品分类：自动化测试系统 > 基于PXI平台设备 > PXI模块。
品牌：NI（National Instruments），全球知名的自动化测试和测量设备提供商。

综上所述，NI PXIe-6570 PXI数字模式仪器是一款功能强大、技术先进的半导体测试设备，能够满足各种半导体特性分析和生产测试的需求。

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